Специалистами ФИЦ «Информатика и управление» РАН - к.т.н., доцентом, зав. лабораторией И.А. Тихомировым, аспирантом В.В. Жебелем, инженером-исследователем М.А. Каменской, и к.т.н., главным специалистом ФГБНУ «Дирекция НТП» А.В. Комаровым - рассматривается проблема оценки качества патентных исследований как важнейшей составляющей научных исследований и инновационного процесса. Показано, что отсутствуют верифицируемые критерии оценки качества отчетов о патентных исследованиях и методические рекомендации по их составлению. Авторами предложены критерии оценки качества патентных исследований, описано, каким образом они могут быть определены, сделаны выводы о возможностях их применения для автоматизированной оценки качества отчетов о патентных исследованиях.
РИНЦ: https://www.elibrary.ru/item.asp?id=29063216
Журнал на сайте ИД «ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНАЯ СОБСТВЕННОСТЬ»: http://superpressa.ru/index.php?option=com_content&view=article&id=807
На сайте системы «Гарант»: https://base.garant.ru/55886037/
Тихомиров И. А., Жебель В. В., Каменская М. А., Комаров А. В. Оценка качества патентных исследований // Интеллектуальная собственность. Промышленная собственность. 2017. № 5. С. 47-54